La tomodensitométrie à rayons X industrielle (TIC) peut révéler les détails internes des objets en trois dimensions de manière non destructive.
Les rayons X sont transmis à travers l'échantillon, généralement selon une géométrie de faisceau conique ou en éventail. Ensuite, les rayons X frappent le détecteur à scintillation, collectant une série d'images pendant que l'échantillon tourne sur une plate-forme à 360°, en utilisant le logiciel de traitement d'images pour collecter des images et en utilisant le logiciel de reconstruction 3D pour obtenir les ensembles de données de volume 3D.
Le système de tomodensitométrie à rayons X a de nombreuses applications, notamment dans les domaines des matériaux, de la métrologie et de la fabrication, de l'ingénierie, de l'alimentation, de la biologie, de la géologie et de la paléontologie. En tant que technologie de pointe, la tomodensitométrie à rayons X a récemment fait progresser considérablement les domaines de la science des matériaux, de l'électronique, de la fabrication et de l'intelligence artificielle.
